ニュースリリース

パナソニックFSエンジニアリング株式会社は、「OPIE'14 レンズ設計・製造展」に出展致します。

今回のパナソニックブースでは、小径・高傾斜測定、大型レンズの高速測定、自由曲面測定へ対応可能な超高精度三次元測定機の幅広い製品ラインアップを展示致します。
さまざまな微細形状をナノ精度で測定可能な超高精度三次元測定機で、お客様のお困りごとに対するソリューション提案を技術者・営業担当者が丁寧にご説明させて頂きます。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。是非ともパナソニックブースにお立ち寄り下さいますようお願い申し上げます。

【展示会名】 OPIE'14 レンズ設計・製造展
【会期】 2014年4月23日(水)~4月25日(金)
【会場】 パシフィコ横浜 展示ホールB・C
【場所】 展示ホールB・C 小間番号 D-21

<主な出展商品(予定)>

◆超高精度三次元測定機
 ・UA3P
 ・UA3P-400T
 ・UA3P-500H/650H/700H
 ・UA3P-3000とR5D30ダイヤスタイラスでの高精度測定のご提案
 ・UA3P-400Lとピコ秒レーザー加工機でのソリューションのご提案

◆周辺機器
 ・傾き偏芯測定用治具
 ・自動測定用治具

◆計測器校正サービスのご案内
 ・パナソニックグループの品質基準に基づいた校正サービスをご提供致します

また会期中、展示内特設会場においてセミナー(無料)を開催致します。

【日時】 2014年4月25日(金)13:50~14:40
【会場】 パシフィコ横浜 展示ホール内特設会場E-206
【内容】 『超高精度三次元測定機UA3Pの最新機種のご紹介』
      -小型レンズの高傾斜角の高精度測定と大型レンズの高速測定の実現-