ニュースリリース

パナソニックFSエンジニアリング株式会社では、OPIE‘15 レンズ設計・製造展」に出展いたします。

今回のパナソニックブースでは、小径・高傾斜測定、大型レンズの高速測定、自由曲面測定へ対応可能な超高精度三次元測定機の幅広い製品ラインアップを展示いたします。
さまざまな微細形状をナノ精度で測定可能な超高精度三次元測定機で、お客様のお困りごとに対するソリューション提案を技術者・営業担当者が丁寧にご説明させて頂きます。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。是非ともパナソニックブースにお立ち寄り下さいますようお願い申し上げます。

みなさまのご来場を心よりお待ちしております。

【展示会名】 OPIE‘15 レンズ設計・製造展
【会   期】 2015年 4月22日(水)~ 4月24日(金) 10:00~17:00
【会   場】 パシフィコ横浜
【場   所】 展示ホール C・D 小間番号 R-20

<主な出展商品(予定)>

◆デバイス実装ソリューション
 ・UA3P
 ・UA3P-400T
 ・UA3P-500H/650H/700H
 ・UA3P-3000
 ・UA3P-400L
 ・新アプリケーションのご紹介

◆周辺機器
 ・傾き偏芯測定用治具
 ・自動測定用治具
 ・ライナー対応測定治具
 ・スタイラス各種

また会期中、展示会内特設会場にてセミナー(無料)を開催いたします。

【日   時】 4月24日(金) 12:45~13:35
【場   所】 パシフィコ横浜 展示ホール内特設会場
【内   容】 『超高精度三次元測定機UA3P最新機種による測定技術』のご紹介

※都合により、出展内容を予告なく変更する場合がございます。あらかじめご了承下さい。