材料分析 Materials Analiysis

トランスファーベッセルを用いた大気非暴露での表面分析のご紹介

2013年9月24日

当センターでは表面分析として、 X線光電子分光分析(XPS)、オージェ電子分光分析(AES)、二次イオン質量分析(SIMS)、飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)といった手法を用意し、お客様のご要望に沿った表面情報のご提供に努めています。

表面分析は、数nmのごく浅い表面に存在する元素やイオンの情報を調べる手法ですので、大気中で汚染や変質が起きやすいサンプルについては注意が必要です。

トランスファーベッセルは、汚染や変質からサンプルを守って分析装置内に導入するためのツールです。例えば、酸化されやすい金属や水分で変質しやすい材料は、グローブボックス中でサンプリングを行ってからトランスファーベッセルに入れると、大気暴露せずに分析装置内へ導入することができます。

トランスファーベッセル

在、当センターでは、XPS、AES、TOF-SIMSで、トランスファーベッセルを使用することができます。電池の電極材料、プラズマ処理による表面状態変化、剥離界面状態などの分析時に活用できます。

どうぞお気軽に下記ホームページよりお問い合わせ下さい。
材料分析HP

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