EMC EMC Design and Certfication

静電気試験で学んだ事

2009年9月9日

新人の北川です。情報館にて7月31日に公開した静電気試験から、いろいろな事を学ぶことが出来ましたのでご紹介します。

静電気試験では、使用するコンデンサと抵抗の値により、静電気の与えるストレスを決定します。今回の試験では、同じ静電気対策部品に対して,コンデンサ150pF,抵抗330Ωと,コンデンサ330pF、抵抗2kΩの2水準で行いました。

まず、オシロスコープの静電気電流波形から2水準を比較しました。

コンデンサ150pF,抵抗330Ωの電流波形
コンデンサ330pF,抵抗2kΩの電流波形

静電気印加電圧レベルを同一に設定しているため,立ち上がり部分は、ほぼ同じなのですが、赤丸の主放電部分の形が全く違っていることが確認されました。

この違いが静電気試験結果にどのように影響するのか,実際に確認してみたところ,主放電部分が小さく,30kV印加しても壊れないもので,主放電部分が大きく16kV印加しただけで壊れるという部品がありました。

これは特に静電気の破壊試験では、立ち上がり部分よりも主放電部分の面積(電流×時間)でストレスが変わってきますので、同じ印加電圧でもコンデンサと抵抗の組み合わせが異なれば結果も変わってくることがあるということです。

このような現象をご存知の方は多いかもしれませんが,今回の静電気の破壊試験で主放電部分の面積が大変重要であるということを学ぶことが出来ましたので紹介させていただきました。

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