2010年4月1日

EMCの稲田です。

今回は，近磁界プローブの少し変わった使い方をご紹介します。

近磁界プローブは通常，エミッション測定に用いられますが，この事例はイミュニティ試験で，不幸にも不合格となってしまったサンプルのNG原因の解明に活用しようというものです。

以下にその方法を示します。

図のようにスペクトラムアナライザのトラッキング信号をノイズ注入治具を用いて対象となるプリント基板に注入します。
その状態で，基板上の磁界分布を測定することで，ノイズ電流の基板上の流れを可視化することができます。

本文テキスト

この方法を実施する場合の注意点として，２つ挙げておきます。

1）トラッキング信号を注入しない状態でも測定を行う

2）イミュニティ試験法と同様のノイズ注入方法，経路とする

特に2）は重要で，コモンモード注入と，ノーマルモード注入とでは分布が異なりますので，ご注意ください。