EMC EMC Design and Certfication

G-TEM cellを用いた放射エミッション測定について

2012年4月27日

EMCの橋坂です。

パナソニック(株) 解析センターとなりましたが,今まで通り皆さまからのEMC評価依頼をお受けしておりますので,お気軽にお問い合わせ下さい。

さて,今回はG-TEM cellを用いた放射エミッション測定についてご紹介したいと思います。

SAE J1752-3 REV. JAN2003 規格に,IC(Integrated Circuits)から発生する放射エミッションを TEM cell 又は G-TEM cell を用いて測定するという要求があります。

上限周波数が8GHzまでですので,下記写真のような G-TEM cell が必要になります。

G-TEM cell の上部は,ICを実装したプリント基板を取り付けられるように加工されています。

G-TEM cellを用いた放射エミッション測定1
G-TEM cellを用いた放射エミッション測定2

----------------------------------------------------------------------------------------

※TESEQ社のGTEM250を使用しております。
※0.15MHz~8GHzの周波数範囲で,VSWR 1.5 以下の要求を満足しております。

----------------------------------------------------------------------------------------

お客様から SAE J1752-3 REV. JAN2003 に準拠した放射エミッション測定のご要望をいただき,このたび、測定環境を構築しましたので,是非ご利用下さい。

(IEC 61967-2にも対応しています) 

最新記事

情報館では、プロダクト解析センターWEBで掲載されない情報をリアルタイムでお届けしています。

    現在、新しいお知らせはございません