ＤＰＩ試験に関するテクニカルレポートを公開！
2020年9月11日
門真EMCサイトの石橋です。
コロナの影響で開催が延期されていたTECHNO-FRONTIERが9/8（火）よりバーチャル展示会2020として開催されています（9/8～9/18）。初の試みとなるWeb上での展示会ですが、ここでは、【EMC・ノイズ対策技術】のブースも各社が出展しています。
その中で、株式会社ノイズ研究所様のブースにて、「半導体デバイスに対するEMC試験～DPI試験の概要とユーザ視点での活用方法～」と題して、私が執筆したテクニカルレポートが掲載されました。
株式会社ノイズ研究所様のページは、事前登録なしでも閲覧することが可能です。
ここでは半導体デバイスのEMC規格の中で、伝導性イミュニティ評価の代表的試験方法であるDPI試験（IEC 62132-4）に関する基礎的な内容から、それらを活用したノイズ対策事例、そしてシミュレーションへの活用事例について紹介しています。
半導体デバイスのEMC試験は、半導体メーカはもちろんのこと、近年ではユーザ側としても非常に重要な役割を持ってきています。特に自動車業界では、半導体デバイスの部品置き換え対応時のEMC試験工数削減に向けて、ノイズの根本となる半導体の工程前後品での等価性を証明することで、搭載する電子機器のEMC試験を省略する取り組みが検討されています。
この半導体EMC性能の等価性評価法については、既にJEITAでは規格化（7月）され、現在では自動車業界での規格化に向けて審議が進められています。
従来の半導体メーカだけではなく、それを使用する立場としても十分に理解することで、双方がメリットを得られる取組みとなっています。
プロダクト解析センターでは（財）日本適合性認定協会（JAB）より、2017年5月に半導体のEMCについてもスコープを拡大し、日本初の半導体EMC試験所としてご利用いただけます。
ご興味のある方は、ぜひお問い合わせください。
最新記事
情報館では、プロダクト解析センターWEBで掲載されない情報をリアルタイムでお届けしています。
現在、新しいお知らせはございません