EMC EMC Design and Certfication

静電気可視化システムを活用した解析事例の紹介(1)

2020年12月17日

EMC設計・解析担当の政井です。

今回は、静電気可視化システムの機能の一つで、静電気(ESD)に弱い部分を可視化する「静電気耐量のマッピング」を活用した実製品の解析事例を紹介します。

課題は、デジタルフォトフレームの静電気試験において「フレーム部(金属)に放電ガンで静電気印加した場合に画面が消える」です。

図1. 不具合現象

はじめに簡易的な原因解析として、この不具合(誤作動)発生時にLCDのバックライト電源電圧を測定したところ、正常時9Vが5Vに低下しており、バックライトがスタンバイモードになっており、画面が消えていることを確認しました。

そこで、どの部位で不具合が発生しているのかを特定するため、静電気可視化システムの「静電気耐量のマッピング」を活用して解析をしました。

図2に、静電気耐量のマッピング結果を示します(図中の赤が耐性が弱く、青は耐性が強い、白は不具合発生なし)。この結果からマイコン、SDRAMが静電気耐性が低く、バックライト電源回路部は耐性が高いことが判明しました。

図2. 静電気耐量のマッピング

この結果から、不具合の原因はSDRAMがフリーズし、またSDRAMとマイコン間の通信異常が発生したためにマイコンがフリーズすることでバックライト電源回路を制御できなくなり、スタンバイモードになっていると判断することができました。

経験則によるカット&トライ的な方法ではバックライト電源回路に問題があると推測し、この部位に対策してもうまくいかなく、マイコンやSDRAMがフリーズしているにたどり着くまでに相当な工数を要してしまうのではないかと予想されます。

しかし、今回はこの静電気可視化システムを活用することで、不具合の本質的な部分に短時間(今回は2時間程度)でたどり着くことができました。

本システムにご興味を持たれた方は、是非ご連絡ください。

関連URLのご案内

最新記事

情報館では、プロダクト解析センターWEBで掲載されない情報をリアルタイムでお届けしています。

    現在、新しいお知らせはございません