品質向上への取組み

半導体のEMC規格について国内初のJAB試験所認定取得

弊社 EMCテストラボは(財)日本適合性認定協会(JAB)より、2017年5月に半導体のEMCについてもスコープを拡大しました。日本初の半導体EMC試験所としてご利用いただくことが可能です。

スコープの範囲は下記となります。

Emission/Immunity

規格番号

名  称

Emission

IEC 61967-1

General condition and definition

IEC 61967-2

TEM cell and wideband TEM cell method

IEC 61967-4

1Ω/150Ω direct coupling method

Immunity

IEC 62132-1

General condition and definition

IEC 62132-2

TEM cell and wideband TEM cell method

IEC 62132-4

Direct RF power injection (DPI) method

これにより、グローバルに通用する対外的な試験報告書として利用することが出来ます。

ISMS(情報セキュリティマネジメントシステム) ISO/IEC 27001 認定取得

プロダクト解析センターでは、安心して当社をご利用いただけるよう、お客様からお預りした情報資産をあらゆる脅威から保護し、適切に管理するための様々な取り組みを行っております。

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