支援内容
不良解析
市場や工程で発生した製品や部品の故障原因を解明します。
構造解析
部品内部を可視化することで内部接続や材料構成を把握し潜在的リスクを判断します。
外観観察
傷や汚れ・変色・変形などを顕微鏡で観察し、外見上の異常を確認します。
断面研磨
部品・材料の断面を作製し、内部構造や接合状態、組織を詳しく観察・評価します。
元素分析
材料を構成する元素の種類や含有量を分析し、材質や異物の特定を行います。
有機物分析
樹脂材料の比較・特定と製品などに付着した異物を測定することで故障原因の特定を行います。
X線観察
非破壊で内部構造を可視化し、外から見えない構造や欠陥を確認します。
紹介ビデオ
お客様の声
部品解析に加えて、幅広い知識・知見を加えたアドバイスや異なるアプローチの提案の他、考察まで一緒にしてもらえる
レポートも写真等が多く用いられ社内で解析手法に詳しくない者への説明に効果的だった
見るポイントの提案や解析スピードなど、得られた結果の考察なども満足いく内容になっている
報告書サンプル
観察結果や分析データだけでなく、考察や原因推定を含めた報告書としてご提供します。
品質判断や問題解決に活用いただけるよう、分かりやすく整理してご報告します。
1枚目：解析の目的、実施内容、主な結果、考察、原因推定の全体像を記載
2枚目以降：外観・内部・断面を段階的に観察し、不良箇所を特定するまでの分析結果を掲載
主要解析装置
形態観察
実体顕微鏡
SZ61
試料の形状やめっきの表面状態・断面試料の観察
（x5～x30倍）
デジタルマイクロスコープ
VHX-7000
観察対象を高精細に観るとともにアプリケーションにより3D合成等の様々な機能を搭載
（x20～x2500倍）
金属顕微鏡
BX51M
試料の形状やめっきの表面状態・断面試料の観察
（x50～x1000倍）
マイクロフォーカス透過X線装置
Quadra5Pro
非破壊で内部構造を透視（最大解像度0.1μm）高倍率にて3D解析が可能
走査型電子顕微鏡（SEM）
JSL-IT510LA
電子線を対象物に照射し、表面状態を拡大観察
（x35～x20000倍）
走査型電子顕微鏡（SEM）
S-3400N
電子線を対象物に照射し、表面状態を拡大観察
（x35～x10000倍）【貸出用】
材料分析
赤外分光分析（FT-IR）
iN10／iZ10
赤外線照射による分子構造の特性吸収性を用いた有機材料の分析
X線マイクロアナライザ
EDX
電子線照射による特性X線を検出し無機元素の組成分析が可能（SEMに付属）
蛍光X線膜厚計
SEA6000VX
各種部材に施された薄膜めっきのめっき厚測定
材料加工
機械研磨
Ecomet30／Automet250
試料を樹脂に包埋した後に機械研磨し、断面試料を作成
精密切断機
IsoMet HighSpeed
各種部材の切断を精密に実施可能。断面研磨やCP加工の前処理で使用
クロスセクションポリシャ
IB-19530CP
アルゴンイオンビームによる低ストレスかつ精密な断面試料の作成
カーボンコーター
EC-32010CC
SEM／EDXなどの元素分析用の試料に、カーボン蒸着を行う試料作製装置
イオンスパッター
E-1010
非導電性試料を電子顕微鏡で観察する際に、試料表面の帯電による像障害を防止するため2～15nm程度の金属を試料表面にコ－ティングする装置
よくあるご質問
Q1：
遠方のため、現地での打合せが難しいのですが、オンラインでの相談はできますか？
A1：
可能です。Web会議や電話など、お客様のご都合に合わせた打合せ方法をご提案いたします。
Q2：
急ぎで解析を依頼したいですのですが、対応いただけますか？
A2：
案件の状況にもよりますが、緊急案件にも可能な範囲で柔軟に対応いたします。まずはお気軽にご相談ください。
Q3：
解析内容が決まっていないのですが、相談できますか？
A3：
可能です。お困りごとや現象をお伺いした上で、課題解決に適した解析方法をご提案します。