特徴
特徴
微分干渉顕微鏡によるサブミクロン画像処理で、実装位置ズレを高精度に検出
用途
異方導電フィルム(ACF)内の導電粒子の圧痕確認により液晶COG (Chip on Glass)実装における、IC圧着状態を検査
微分干渉顕微鏡によるサブミクロン画像処理で、実装位置ズレを高精度に検出
用途
異方導電フィルム(ACF)内の導電粒子の圧痕確認により液晶COG (Chip on Glass)実装における、IC圧着状態を検査