About UA3P

UA3Pについて

UA3Pのポリシー と主な適用分野、進化の歩みをご紹介いたします。

UA3Pのポリシー

「測れないモノは作れない」をポリシーとし、
多種多様な測定機種でナノレベル測定機を提供いたします。

UA3P Ultrahigh Accurate 3-D Profilometer

スマートフォン・DSC・DVDやBlu-rayなどのデジタル家電、ホームセキュリティ、光通信、車載用HUDに欠かせない非球面レンズや自由曲面ミラー及びその金型を、0.01μmの精度で測定を実現。
簡単操作で加工へのフィードバックもスピーディに対応します。

将来も測定精度の追求、商品の継続進化を続けます。

(小型モデル)スマートフォン用カメラレンズ測定に最適

(小型モデル)スマートフォン用カメラレンズ測定に最適

(大型モデル)HUD、天文に最適

(大型モデル)HUD、天文に最適

各種測定機の測定精度・適用分野

各種測定機の測定精度・適応分野

進化の歩み

光学部品の変遷と測定技術の進化

独自技術開発により、非球面レンズの高精度測定を実用化し、お客様からのご要望にお答えすることでUA3Pは進化してまいりました。

必要とされる光学部品と測定技術開発の歩み

必要とされる光学部品と測定技術開発の歩み

レンズ業界のスタンダード

スマートフォン向けのレンズ業界において高精度測定機のスタンダードとして認められるようになりました。日本で誕生したUA3Pの技術は家電、住宅、車載とパナソニックの展開する事業領域すべてに関係しており、今では世界中で使用され多くの技術開発に貢献しています。

納入国

※納入国

特長

UA3Pの座標測定技術、高精度プローブ、
コア・ソフトウェア技術などの特長を紹介いたします。

座標測定技術

測定機の座標系は、ステージと独立した3枚の参照平面(ミラー)で構成され、周波数安定化He-Neレーザを光源としたレーザ干渉法によりXYZ各軸を分解能0.3nmで測長します。これによりステージの直角度・真直度による影響を抑え、高精度測定を実現します。

  • 座標軸による測定誤差:0.05μm以内(~100mm)、0.3μm以内(~500mm)
座標測定技術

測定プローブ

1. 上面測定用(AFP)

超低測定力で測定物の高精度スキャニング測定が可能です。
スタイラスはマイクロエアスライダーで保持され、フォーカス用レーザによりスタイラスの動きを検出し、測定力が一定になるようにAFPの位置を測定物の形状に合わせて追従します。

  • 測定力:0.15~0.30mN(15~30mgf)※UA3P-3100/4000は0.05~0.30mN、UA3P-5000Hは0.10~0.30mN
  • スタイラス:先端角30度、r=2μmダイヤスタイラス使用可能
上面測定用(AFP)

2. 側面測定用(S-AFP)

高精度に検出されたプローブミラーの傾きをXYステージにフィードバックし、低接触力(0.3mN)のスキャン測定が可能です。レンズ鏡筒(バレル)などの樹脂製品で変形無く測定が可能です。

  • 測定力:0.3mN(30mgf)
  • 測定精度:±0.15μm(90°傾斜測定時)
  • 測定最大角度:水平方向測定時 45°~90°(水平面に対する角度)、垂直方向測定時 80°~90°(水平面に対する角度)

高精度に検出されたプローブミラーの傾きをXYステージにフィードバックし、低接触力(0.3mN)のスキャン測定が可能です。レンズ鏡筒(バレル)などの樹脂製品で変形無く測定が可能です。

  • 測定力:0.3mN(30mgf)
  • 測定精度:±0.15μm(90°傾斜測定時)
  • 測定最大角度:水平方向測定時 45°~90°(水平面に対する角度)、垂直方向測定時 80°~90°(水平面に対する角度)
側面測定用(S-AFP)

コア・ソフトウェア技術

簡単な操作で高精度な測定を実現。あらゆる設計情報に対応でき、測定物の設置誤差を3次元的に補正して正確な形状測定が可能です。

Step1:設計情報入力

あらゆる設計情報に対応

  • 光学設計式
  • 3次元点群データ
設計情報入力

Step2:センタリング・測定

測定中心を見つけ、軸上、面上を走査測定

センタリング・測定

Step3:アライメント

測定データと設計式の差を数値化

アライメント

上側面測定技術

上面測定データと側面測定データを合成し、側面基準でレンズや金型の光軸の偏心、傾きが評価可能

上側面測定技術