半導体ＥＭＣとは？
これまでのノイズ評価は完成品・基板レベルでの評価が主流でしたが、近年半導体レベルでのノイズ評価を 要求されることがあります。半導体EMC評価は国内及び海外自動車メーカーの納入要件としても求められています。車載機器に対する半導体のEMC評価は、今や無視できない存在です。
ユーザとしても半導体のEMC特性を把握することで、セット商品の低ノイズ化や高耐性化を実現することが出来ます。
「AEC-Q100を要求された」や「IEC 61967って何？」など、初めてのお客様もお気軽にご相談ください。
国際規格（IEC 61967シリーズ、IEC 62132シリーズ）に基づく半導体ＥＭＣ試験
半導体のEMC規格には、代表的なエミッション規格としてIEC 61967シリーズ、イミュニティ規格としてIEC 62132シリーズ，IEC 62215シリーズが制定されています。また、自動車用の半導体規格として、AEC-Q100や、BISS規格などがあります。評価の目的に応じて、適切な評価方法をご提案いたします。
IEC 61967シリーズ（エミッション規格）
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規格番号 |
試験方法 |
概 要 |
|---|---|---|
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IEC 61967-1 |
General conditions and definitions |
用語の定義、評価基板の作成ルール |
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IEC 61967-2 |
TEM-Cell and Wideband TEM-Cell Method |
TEMセル、またはGTEMセルを用いて、ICからの電磁界を測定 |
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IEC 61967-3 |
Surface scan method |
電磁界プローブを用いて、ICの近傍電磁界を測定 |
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IEC 61967-4 |
1Ω/150Ω direct coupling method |
グラウンドのリターン電流、またはポートの電圧を測定 |
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IEC 61967-5 |
Workbench Faraday Cage method |
Workbench Faraday Cage (WBFC)を用いて、 |
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IEC 61967-6 |
Magnetic probe method |
磁界プローブを用いて、ポートの電流を測定 |
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IEC 61967-8 |
IC strip line method |
開放型ストリップラインを用いて、ICからの電磁界を測定 |
IEC 62132シリーズ（イミュニティ規格）
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規格番号 |
試験方法 |
概 要 |
|---|---|---|
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IEC 62132-1 |
General conditions and definitions |
用語の定義、評価基板の作成ルール |
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IEC 62132-2 |
TEM-Cell and Wideband TEM-Cell Method |
TEMセル、またはGTEMセルを用いて、ICに強電界を印加 |
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IEC 62132-3 |
Bulk Current Injection (BCI) method |
BCIプローブを用いて、ポートに電流を注入 |
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IEC 62132-4 |
Direct RF power injection method |
容量性結合により、ポートに電流を注入 |
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IEC 62132-5 |
Workbench Faraday Cage method |
Workbench Faraday Cage (WBFC)を用いて、 |
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IEC 62132-8 |
IC strip line method |
開放型ストリップラインを用いて、ICに強電界を印加 |
評価事例のご紹介
- TEM-Cell and Wideband TEM-Cell Method （IEC 61967-2）
本試験法では、ICから放射される電磁界をTEMセル、またはGTEMセルにて測定します。 放射電磁界の向きによって測定値が変化するため、測定はプリント基板を90度づつ回転させて行います。 また、プリント基板の作り込みによっても、測定値が影響を受けるため、プリントパターンからの放射の影響を抑えたプリント基板設計が求められます。
- 1Ω/150 Ω direct coupling method （IEC 61967-4）
直接、ポートの伝導ノイズを測定する方法です。 1Ω法では、ICのGNDポートへのリターン電流をシャント抵抗（1Ω）を用いて測定します。また、I/Oポートについては、線路のインピーダンスを150Ωに設定し、GNDとの電位差を測定します。
